暗场光谱成像显微镜 - InFocus λ DS

InFocus λ - 全新显微光谱技术

一种用于观察纳米颗粒的暗场显微镜，加上快速、高清晰度的暗场光谱成像。等离子体增强散射光和荧光可以以高光谱分辨率进行分析。

亮点

在落射照明暗场显微镜下可以清晰地观察到纳米粒子的分布

具有线检测光学器件和高像素 CCD 的超快速、高清晰度暗场光谱成像。

分散的纳米粒子可以被检测、计数，并与光谱信息一起列出。

概览

InFocus λ DS 暗场光谱成像显微镜是一款开创性的仪器，融合了暗场显微镜和高光谱成像能力。它允许观察金属纳米粒子的分布以及它们的散射和荧光的光谱分析，在等离子体生物传感器探索等领域的研究和开发中具有极大价值。

图 1 所示为暗场显微镜的光学系统。利用环形光阑和环形反射镜，它用环形白色 LED 光对角照射样品。它消除了观察中的背景光，并能够在平坦的基板上观察纳米粒子和纳米结构。

图 1：落射照明暗场显微镜

具有线检测的超快速暗场光谱成像

InFocus λ DS 的主要特点是能够进行超快速和高清晰度的暗场光谱成像。例如，在用暗场显微镜观察金属纳米粒子的分布时，可以选择感兴趣的区域并进行光谱成像，以评估诸如表面等离子体增强散射光和表面等离子体激发增强荧光等光学响应作为光谱。

线检测暗场光谱成像的机制如图 2 所示。光谱仪的狭缝方向用作空间信息，对特定的测量区域（线检测）进行单个 X 轴光谱测量。具有 256×1024 像素的电制冷 CCD 允许在空间和光谱方向上获取大量数据。

图 2：线检测机制。测量区域内 X 轴上的 256 个点一次性进行光谱测量。

图 3：点检测和线检测测量时间的比较。

直观的软件和粒子分析功能

在暗场显微镜图像中点击感兴趣的区域，即可查看该位置的光谱信息。可以选择四种 ROI（感兴趣区域）选择模式——点、线、正方形和椭圆形——以显示光谱，不包括额外的区域，并尽可能避免噪声成分。

您还可以为光谱中的任何波段特定一种伪彩色，并可视化其强度分布。除了显示所选波段的平均强度分布外，还有各种其他模式可用，例如使用 Cobell 方法显示峰面积强度。

它还具有“粒子分析功能"，通过应用阈值检测纳米粒子，对粒子的数量进行计数和编号，并自动提取每个粒子的平均光谱数据，并将这些信息显示在列表中。

此外，该系统足够灵活，可以开发其他专门的功能以适应用户的数据分析目标。

应用

在利用金属纳米粒子的等离子体生物传感器的研发中，用于纳米结构观察的暗场显微镜和用于光学响应研究的光谱学是不可缺失的。在此，我们利用暗场光谱成像显微镜，给出一个针对银纳米粒子的表面等离子体增强散射和荧光的暗场光谱分析示例。